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辐照度计 - 紫外辐照计 型号/图片

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peifbnu紫外辐照计UVB

北师大光电UVB紫外线辐照计254nm杀菌灯辐照度测量

UV-B紫外辐照计测量紫外线波长范围λ=230~275nm/λp=254nm,或λ=275~330nm/λp=297nm,自动量程切换,响应时间1秒,适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。

北师大光电代理商报价联系电话:18823303057

美国IL国际光学ILT2400测光表XSD340A探头405nm光刻胶辐照度

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。

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美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶辐射测量

International Light国际光学ILT2400辐照计专用探头XSD140B用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量,响应波段326-401nm,中心波长365nm,辐照度量程7e-8至1W/cm2,研究级的质量,手持式产品的价格。

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美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm,校准于254nm中心波长,辐照度量程范围7e-7~10W/cm2,专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果,带美国NIST可溯源校准和证书。

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peifbnu紫外辐照计UVA

北师大光电UVA紫外辐照计UV-A紫外线照度计365nm波长

UV-A紫外辐照计新款自动量程型号可手动/自动量程切换,测量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,波长范围λ=320~400nm,λP=365nm,适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

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美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长30W/cm2高功率曝光

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。

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美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片

International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头、XIR395校准片用于精确控制395nm波长曝光强度等级和曝光时间,测量速度高达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。

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路昌UVC-254紫外线辐照计UVC254紫外光强度计

路昌紫外线辐照计UVC-254照度计是专业高品质UV表,中心点254nm光谱响应范围,测量波段248~260nm,带补正滤光镜的专用UV探头,应用于紫外线杀菌、光学匹配、实验室研究。

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台湾路昌UV-340A紫外辐照计UV340A紫外线强度计

LUTRON路昌UV-340A照度计是UVA+UVB型紫外线辐照计,测量波长290nm~390nm,紫外线强度量程范围0~1999uW/cm2、2000~~19990uW/cm2,可用于焊接时监测蓝紫射线辐射、阳光辐射监测、UV杀菌、光刻曝光及实验室用途。

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美国ILT2400辐照计SED033/QNDS2/W探头太阳辐射测量100倍衰减滤光片

美国International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W辐照度测量系统用于太阳和太阳模拟器辐射测量,探头响应波长200-1100nm,传感器安装100倍衰减滤光片,读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²,带美国NIST可溯源校准和证书。

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